US 4575676 А, 04.04.1983. Горлов М., Емельянов В., Жарких А., Строгонов А. Прогнозирование потенциально ненадежных полупроводниковых приборов по критериям низкочастотного шума // Chip News 6 (89), 2004. RU 2289144 С2, 10.12.2006. RU 2168735 С2, 10.02.2001. RU 95103986 A1, 27.07.1996. RU 2364880 C1, 20.08.2009. US 4575676 A1, 11.03.1986. US 4168432 A1, 18.09.1979. JP 10318949 A, 04.12.1998. JP 63115347 A, 19.05.1988.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" (RU)
Изобретатели:
Горлов Митрофан Иванович (RU) Смирнов Дмитрий Юрьевич (RU) Золотарева Екатерина Александровна (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" (RU)
Реферат
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности полупроводниковых изделий (диодов, транзисторов и интегральных схем), и может быть использовано для разбраковки по критерию потенциальной надежности как в процессе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность способа разбраковки полупроводниковых изделий заключается в измерении интенсивности шума до и после внешнего воздействия рентгеновским излучением дозой порядка 10 кР. Техническим результатом изобретения является повышение оперативности процесса разбраковки полупроводниковых изделий по потенциальной надежности. 1 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента