Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежская государственная лесотехническая академия" (RU)
Изобретатели:
Попиков Петр Иванович (RU) Жарких Александр Петрович (RU) Володин Иван Николаевич (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежская государственная лесотехническая академия" (RU)
Реферат
Изобретение относится к области испытаний изделий электронной техники и может быть использовано для оценки качества и надежности изделий микро- и наноэлектроники, применяемых в аппаратуре с длительными сроками эксплуатации. Сущность изобретения: для определения потенциально нестабильных полупроводниковых изделий (ППИ) замеряют диагностические параметры изделий, воздействуют ионизирующим излучением на ППИ, отжигают изделия при максимально допустимой или предельно допустимой температуре для данного типа изделия по техническим условиям (ТУ), при этом замер диагностических параметров проводят до воздействия ионизирующим излучением, после воздействия и после отжига, повторяют несколько раз цикл воздействия ионизирующее излучение - отжиг, причем количество циклов зависит от типа ППИ, определяют постоянную отжига и по ее значениям разделяют изделия по уровню стабильности. Технический результат заключается в повышении достоверности и уменьшении времени испытаний.
Поиск патентов
Получить полное описание патента