Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" (RU)
Изобретатели:
Горлов Митрофан Иванович (RU) Козьяков Николай Николаевич (RU) Золотарева Екатерина Александровна (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" (RU)
Реферат
Изобретение относится к области электротехники, в частности к производству и эксплуатации интегральных схем (ИС), и может быть использовано для выделения из партии ИС повышенной надежности в процессе производства, а также на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность изобретения заключается в том, что КНП измеряют при нормальной и повышенной температуре, не превышающей максимально допустимую температуру кристалла, а отбор интегральных схем проводят по относительной величине изменения КНП, рассчитанной по формуле: