|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ |  |
Номер публикации патента: 2330300 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R031/265 | | Аналоги изобретения: | RU 2080611 C1, 27.05.1997. RU 2079853 C1, 20.05.1997. SU 1805512 A1, 30.03.1993. SU 1098466 A, 30.09.1985. US 6859060 B2, 22.02.2005. |
| Имя заявителя: | Подшивалов Владимир Николаевич (RU) | | Изобретатели: | Подшивалов Владимир Николаевич (RU)
Макеев Виктор Владимирович (RU) | | Патентообладатели: | Подшивалов Владимир Николаевич (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к технике контроля полупроводников. Наиболее целесообразно использовать предлагаемое изобретение для бесконтактного, оперативного контроля параметров глубоких уровней (ГУ), поверхностных состояний (ПС), поверхностного потенциала (заряда), а также времени жизни неосновных носителей заряда.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента