На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ ЭЛЕКТРОНОВ В АКТИВНОЙ ОБЛАСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ИНЖЕКЦИОННОГО ЛАЗЕРНОГО ДИОДА | |
Номер публикации патента: 2330299 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01R031/26 | Аналоги изобретения: | RU 2006987 C1, 30.01.1994. SU 1778821 A1, 30.11.1992. SU 1092436 C1, 15.05.1984. |
Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" (RU) | Изобретатели: | Акчурин Гариф Газизович (RU) | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области оптических информационных технологий, в частности к методам диагностики динамических параметров лазеров, используемых в волоконно-оптических линиях связи и определяющих скорость передачи импульсно-кодовой информации. Способ определения времени жизни носителей в активной области полупроводникового инжекционного лазерного диода включает измерение амплитудно-частотной характеристики лазерного диода, по которой определяют время жизни электронов.
|