|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ |  |
Номер публикации патента: 2309417 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R031/26 | | Аналоги изобретения: | RU 2234163 C1, 10.08.2004. RU 2247403 С1, 27.02.2005. SU 1049837 А1, 23.10.1983. US 6292011 В1, 18.09.2001. JP 2000241491 A, 08.09.2000. |
| Имя заявителя: | Открытое акционерное общество "Концерн "Созвездие" (RU) | | Изобретатели: | Горлов Митрофан Иванович (RU)
Жарких Александр Петрович (RU)
Шишкин Игорь Алексеевич (RU) | | Патентообладатели: | Открытое акционерное общество "Концерн "Созвездие" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к обеспечению надежности партий биполярных транзисторов за счет определения потенциально ненадежных приборов, и может быть использовано как на этапе производства, так и применения. Способ определения потенциально ненадежных биполярных транзисторов заключается в измерении низкочастотного шума транзистора, который проводят на двух переходах эмиттер - база, коллектор - база при двух значениях тока и делают вывод о надежности приборов по величине кри
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента