|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОТБОРА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ ПОВЫШЕННОЙ НАДЕЖНОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2276379 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R031/26 | | Аналоги изобретения: | ОСТ 11 073.043-75. Приборы полупроводниковые и микросхемы интегральные. Метод контроля качества с помощью m-характеристик, 1975. SU 285710 А, 05.08.1976. RU 2204143 С2, 10.05.2003. RU 2146827 C1, 20.03.2000. US 4816753 A, 28.03.1989. |
| Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" (RU) | | Изобретатели: | Горлов Митрофан Иванович (RU)
Козьяков Николай Николаевич (RU)
Рубцевич Иван Иванович (RU) | | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано для отбора из партии полупроводниковых приборов повышенной надежности. Технический результат: расширение функциональных возможностей. Сущность: проводят измерение т-характеристик переходов приборов в диапазоне прямого тока (1-110 мА) трижды: до, после воздействия 5-15 электростатических разрядов в прямом и обратном направлении на каждый переход напряжением, равным допустимому значению по техническим условиям (ТУ), и после те
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента