|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ ПО РАДИАЦИОННОЙ СТОЙКОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2253875 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R031/26 | | Аналоги изобретения: | RU 2149417 C1, 20.05.2000. RU 2168735 C2, 10.06.2001. RU 2066869 C1, 20.09.1996. US 4816753 A, 28.03.1989. US 3723873 A, 27.03.1973. |
| Имя заявителя: | Государственное научное учреждение "Научно-исследовательский институт интроскопии при Томском политехническом университете Министерства образования Российской Федерации" (ГНУ "НИИ ИН при ТПУ") (RU) | | Изобретатели: | Зыков В.М. (RU)
Юнда Н.Т. (RU)
Арчаков В.Г. (RU)
Шеремет А.В. (RU) | | Патентообладатели: | Государственное научное учреждение "Научно-исследовательский институт интроскопии при Томском политехническом университете Министерства образования Российской Федерации" (ГНУ "НИИ ИН при ТПУ") (RU) |
Реферат | |
Использование: для разбраковки полупроводниковых приборов по радиационной стойкости. Сущность заключается в том, что критериальный параметр полупроводниковых приборов для “обучающей” выборки и классифицируемой партии измеряют до и после облучения малой дозой ионизирующего излучения, не приводящей к существенному структурному дефектообразованию, а определение стойкости приборов осуществляют на основе измеренных значений этого параметра и радиационных испытаний “обучающей” выборки, при этом определ
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента