На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕСТАБИЛЬНЫХ ТРАНЗИСТРОВ | ![](Images/non.gif) |
Номер публикации патента: 2253125 | ![](Images/empty.gif) |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01R031/26 | Аналоги изобретения: | RU 2098839 C1, 10.12.1997. SU 490047 A, 31.03.1976. SU 151403 A1, 01.01.1962. SU 1647478 A1, 07.05.1991. |
Имя заявителя: | Воронежский государственный технический университет (RU) | Изобретатели: | Горлов М.И. (RU) Андреев А.В. (RU) Ануфриев Л.П. (RU) | Патентообладатели: | Воронежский государственный технический университет (RU) |
Реферат | ![](Images/empty.gif) |
Использование: в микроэлектронике на этапе серийного производства полупроводниковых изделий, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры. Сущность изобретения: в способе определения потенциально нестабильных транзисторов, после предварительных результатов испытаний для каждого типа транзисторов проводят испытания на стабильность в постоянном режиме измерения коэффициента усиления по току в течение 20-30 минут, по результатам которых судят о стабильности транзисторов.
|