|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОТБРАКОВКИ НЕНАДЕЖНЫХ МАЛОМОЩНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ |  |
Номер публикации патента: 2247403 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R031/26 H01L021/66 | | Аналоги изобретения: | SU 1430913 A1, 15.08.1988. SU 706796 A, 30.12.1979. SU 1049837 A, 29.09.1981. US 6292011 А1, 18.09.2001. |
| Имя заявителя: | Воронежский государственный технический университет (RU) | | Изобретатели: | Горлов М.И. (RU)
Андреев А.В. (RU)
Емельянов В.А. (RU)
Рубцевич И.И. (RU) | | Патентообладатели: | Воронежский государственный технический университет (RU) |
Реферат | |
Использование: изобретение относится к микроэлектронике, а именно к обеспечению качества и надежности транзисторов за счет определения потенциально нестабильных транзисторов. Изобретение может быть использовано на этапе серийного производства полупроводниковых изделий, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента