|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОТБРАКОВКИ МИКРОСОЕДИНЕНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ |  |
Номер публикации патента: 2234710 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R031/26 | | Аналоги изобретения: | RU 99126883 А, 27.11.2001. RU 2000109613 А, 20.01.2002. RU 2010004 С1, 30.03.1994. SU 253196 А, 05.10.1969. |
| Имя заявителя: | Воронежский государственный технический университет (RU),ООО Консультационно-технический центр "Электроника" (RU) | | Изобретатели: | Зенин В.В. (RU)
Горлов М.И. (RU)
Сегал Ю.Е. (RU)
Беляев В.Н. (RU)
Бокарев Д.И. (RU) | | Патентообладатели: | Воронежский государственный технический университет (RU)
ООО Консультационно-технический центр "Электроника" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к технологии производства полупроводниковых изделий электронной техники, а именно к способам отбраковки внутренних микросоединений полупроводниковых приборов. Сущность изобретений: в способе отбраковки микросоединений полупроводниковых изделий на микросоединения воздействуют струей сжатого воздуха, при обдуве воздухом полупроводниковое изделие подключено к прибору автоматического контроля статических параметров, а на изделие подают максимально допустимое напряжение и при ток
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента