На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ | ![](Images/non.gif) |
Номер публикации патента: 2234163 | ![](Images/empty.gif) |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | H01L021/66 G01R031/26 | Аналоги изобретения: | SU 490047 А, 25.10.1975. SU 1347050 А1, 23.10.1987. JP 61128541 А, 16.06.1986. US 6184048 А, 06.02.2001. |
Имя заявителя: | Воронежский государственный технический университет (RU) | Изобретатели: | Горлов М.И. (RU) Жарких А.П. (RU) Емельянов В.А. (RU) | Патентообладатели: | Воронежский государственный технический университет (RU) |
Реферат | ![](Images/empty.gif) |
Использование: обеспечение качества и надежности партий транзисторов за счет определения потенциальных ненадежных приборов, как на этапе производства, так и применения. Сущность: на представительной выборке транзисторов одного типа проводят измерения шума переходов эмиттер-база и коллектор-база на постоянном токе.
|