|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОТБОРА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ ПО СТОЙКОСТИ ИЛИ НАДЕЖНОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2168735 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R031/26 G01R031/28 | | Аналоги изобретения: | ЧЕРНЫШОВ А.А. и др. Радиационная отбраковка полупроводниковых приборов и интегральных схем. - Зарубежная электронная техника, 1979, вып.5, с.3-25. RU 2066869 C1, 20.09.1996. US 4816753 A1, 28.03.1989. |
| Имя заявителя: | РНИИ "Электронстандарт" | | Изобретатели: | Васильева З.Ф.
Коскин В.В.
Лукица И.Г.
Лысов В.Б.
Малинин В.Г.
Матвеева Л.А. | | Патентообладатели: | РНИИ "Электронстандарт" |
Реферат | |
Изобретение относится к микроэлектронике и предназначено для разбраковки изделий электронной техники по заранее заданным уровням стойкости или надежности. Способ включает формирование представительной "обучающей" выборки для каждого типа разбраковки из испытуемой партии изделий, облучение ее небольшой дозой, вызывающей значимое изменение не менее двух параметров, указанных в технических условиях или дополнительных, построение распределения изделий выборки по степени изменения параметров, вызванно
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента