|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КРИТИЧЕСКОГО ТОКА СВЕРХПРОВОДНИКА |  |
Номер публикации патента: 2156980 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R019/00 G01R031/26 | | Аналоги изобретения: | ВОЛКОВ П.В., ИМЕНИТОВ А.Б. и др. Метрологические проблемы измерения токовых характеристик высокотемпературных сверхпроводников. - Сверхпроводимость: физика, химия, техника, 1994, т.7, N 3, с.397-411. КЕМПБЕЛЛ А., ИВЕТС ДЖ. Критические токи в сверхпроводниках. - М.: Мир, 1975, с.9, с.132. ГОЛЕВ И.М., МИЛОШЕНКО В.Е., АНДРЕЕВА Н.А. Установка для исследования динамики пятна магнитного потока в сверхпроводниках механическим методом. - Приборы и техника физического эксперимента. - М.: 1998, N 5, с.161 - 163. RU 2087994 C1, 20.08.1997. RU 2102771 C1, 20.01.1998. |
| Имя заявителя: | Воронежский государственный технический университет | | Изобретатели: | Голев И.М.
Андреева Н.А. | | Патентообладатели: | Воронежский государственный технический университет |
Реферат | |
Изобретение относится к области измерительной техники, а точнее к способам измерения параметров сверхпроводящих материалов, в частности, критического тока. Технический результат заключается в повышении точности оценки токонесущей способности сверхпроводника. Сверхпроводник размещают между полюсами магнитной системы, создающей в его локальном объеме пятно магнитного потока с индукцией В, и измеряют величину критического тока этой локальной области для данного значения индукции.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента