|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ ИС |  |
Номер публикации патента: 2143704 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01R031/26 | | Аналоги изобретения: | Гаврилов В.Ю. и др. Обнаружение скрытых дефектов в аналоговых интегральных схемах. Надежность и контроль качества, N 3, 1991, с.28-32. RU 2005308 C1, 30.12.93. US 4816753 A, 28.03.89. DE 2833780 A1, 21.02.80.US 4875004 A, 17.10.89. US 4827212 A, 02.05.89. US 4954772 A, 04.09.90. US 4949034 A, 14.08.90. US 4859939 A, 22.08.89. RU 2046365 C1, 20.10.95. |
| Имя заявителя: | Воронежский государственный технический университет | | Изобретатели: | Горлов М.И.
Бордюжа О.Л. | | Патентообладатели: | Воронежский государственный технический университет |
Реферат | |
Изобретение относится к производству и эксплуатации интегральных схем (ИС). Технический результат заключается в повышении надежности, который достигается за счет того, что объект испытаний подвергают термоциклированию и регистрируют зависимость изменения информативного параметра (критического напряжения питания) от величины внешнего воздействия (температуры). На основе сравнения зависимостей на разных термоциклах проводят разбраковку объектов испытаний. По экспериментальным данным для каждого типа объектов испытаний рассчитывают кривую эталонной температурной зависимости критического напряжения питания (КНП) и по величине расхождения температурных зависимостей исследуемой ИС и эталона определяют критерии разбраковки ИС. Для расчетов используют площади под кривыми температурных зависимостей КНП и применяют специально разработанную универсальную программу расчета площади петли гистерезиса. Способ может быть использован для разделения ИС по критериям: потенциальная надежность и контроль качества ИС, а также для повышения достоверности других способов разбраковки как в процессе производства, так и на входном контроле на предприятиях-производителях ИС. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента