|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ ТРАНЗИСТОРОВ ПО ВЕЛИЧИНЕ ТОКОВ УТЕЧКИ |  |
Номер публикации патента: 2098839 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01R031/26 | | Аналоги изобретения: | 1. Watchnik R, Bucelot T., Li G., I.Appl Phys, 1988, N 9, р. 4734 - 4740. 2. Tang D, Hackaoth E, Chen T, IEEE Trans, v. ED-37, 1990, р. 1698 - 1706. |
| Имя заявителя: | Институт проблем кибернетики РАН | | Изобретатели: | Бубенников А.Н.
Кобозев Г.А. | | Патентообладатели: | Институт проблем кибернетики РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к области тестирования и измерения параметров полупроводниковых приборов. Сущность изобретения: в способе тестирования токов утечек транзистора на первой стадии пропускают эмиттерный ток через прямосмещенный эмиттерно-базовый p-n переход при закороченных коллекторе и базе. На второй стадии пропускают коллекторный ток через прямосмещенный коллекторно-базовый переход при подключении эмиттера и базы к общей шине. При этом прямое напряжение коллектор - база подают в виде последовательности импульсов со скважностью не менее 104 и длительностью импульса не более 3·10-4 с, с амплитудой, обеспечивающей плотность эмиттерного тока не менее 2·106 А/см2. На третьей стадии повторяют процедуру первой стадии и сравнивают базовые токи в диапазоне 10-12-10-6 А для первой и третьей стадии, после чего по более чем 10%-му увеличению базового тока отбраковывают испытуемые транзисторы. 4 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента