|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОТБОРА РАДИАЦИОННОСТОЙКИХ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ |  |
Номер публикации патента: 2066869 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01R031/26 | | Аналоги изобретения: | 1. Чернышев А.А., Ведерников В.В., Галеев А.Н., Горюнов Н.Н. "Радиационная отбраковка полупроводниковых приборов и интегральных схем", Зарубежная электронная техника, 1979, вып.5, с.3-25. 2. Патент США N 3723873, МКИ G 01 R 31/22, 1973 г. |
| Имя заявителя: | Малышев Михаил Михайлович | | Изобретатели: | Малышев Михаил Михайлович
Попов Виктор Дмитриевич
Филимонов Алексей Викторович | | Патентообладатели: | Малышев Михаил Михайлович
Попов Виктор Дмитриевич
Филимонов Алексей Викторов |
Реферат | |
Изобретение относится к микроэлектронике. Изделия в процессе отбора не подвергаются облучению, а сам отбор проводится с высокой степенью достоверности. Сущность изобретения: способ включает измерение всех начальных параметров, указанных в ТУ, всех изделий партии, подлежащей разбраковке. Дополнительно у всех изделий измеряют напряжение на входах и выходах при токах через изделие в диапазоне 1-100 нА. Формируется представительная выборка из партии изделий, которую облучают до уровня дозы проникающей радиации, при которой количество отказавших изделий выборки и количество работоспособных изделий выборки становятся величинами одного порядка. Формируют массивы начальных параметров отказавших и работоспособных изделий и статистическим методом распознавания образов рассчитывают для каждого изделия партии дискриминационную функцию D. Отбор радиационностойких изделий проводят при условии D больше Λ, где L - порог распознавания, определяемый жесткостью условий отбора. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента