|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОТБРАКОВКИ КМОП ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПО УРОВНЯМ НАДЕЖНОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2046365 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R031/26 | | Аналоги изобретения: | 1. Авторское свидетельство СССР N 1056088, кл. G 01R 31/26, 1983. |
| Имя заявителя: | Самарский государственный аэрокосмический университет | | Изобретатели: | Архипов А.В.
Паршин А.В.
Пиганов М.Н.
Чернобровин Н.Г. | | Патентообладатели: | Самарский государственный аэрокосмический университет |
Реферат | |
Использование: электронная техника. Сущность изобретения: на испытуемую интегральную схему (ИС) подают входную тестовую последовательность с амплитудой, равной напряжению питания ИС и соответствующей критическому уровню. По величинам отклонения времени распространения данной ИС от среднего значения при включении, либо выключении ИС от установленного критерия производят отбраковку ИС по надежности.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента