На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ С ОПРЕДЕЛЕННЫМ ТИПОМ ДЕФЕКТА | ![](Images/non.gif) |
Номер публикации патента: 2034305 | ![](Images/empty.gif) |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01R031/26 | Аналоги изобретения: | Воздействие изменения температуры среды. ОСТ В 11 0219-85. |
Имя заявителя: | Завод при Научно-исследовательском институте полупроводниковых приборов | Изобретатели: | Белобородов П.Ю. Калинин Ю.М. Криворотов Н.П. Семин П.Ю. | Патентообладатели: | Завод при Научно-исследовательском институте полупроводниковых приборов |
Реферат | ![](Images/empty.gif) |
Сущность изобретения: предлагается способ контроля полупроводниковых приборов, позволяющий отбраковывать только приборы с дефектами, препятствующими обеспечению нужного уровня качества, при этом не повреждаются приборы, таких дефектов не содержащие. К контролируемым приборам прикладывают гидростатическое давление, при котором отказывают все приборы с дефектом данного типа.
|