|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОТБРАКОВКИ СВЕТОДИОДОВ ПО РАДИАЦИОННОЙ СТОЙКОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2032963 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | H01L021/66 G01R031/26 | | Аналоги изобретения: | 1. Аладинский В.К. и др. Прогнозирование надежности светоизлучающих диодов, Электронная техника, сер.2, 1977, в.8(118), с.7-14. |
| Имя заявителя: | Севастопольский приборостроительный институт (UA) | | Изобретатели: | Бржезинский Владислав Адамович[UA]
Никифоров Сергей Сергеевич[RU] | | Патентообладатели: | Севастопольский приборостроительный институт (UA) |
Реферат | |
Изобретение относится к контролю испытаний полупроводниковых приборов и может быть использовано при отбраковке светодиодов по радиационной стойкости для радиоэлектронной аппаратуры, работающей в условиях воздействия ионизирующих излучений. Цель изобретения - осуществление возможности неразрушающей отбраковки потенциально нестойких диодов на основе корреляции температурных и радиационных изменений интенсивности излучения светодиодов.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента