На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ И ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ НА ОСНОВЕ СТРУКТУР МЕТАЛЛ - ДИЭЛЕКТРИК - ПОЛУПРОВОДНИК | ![](Images/non.gif) |
Номер публикации патента: 2009517 | ![](Images/empty.gif) |
Имя заявителя: | Московский институт стали и сплавов | Изобретатели: | Крылов Д.Г. Ладыгин Е.А. Горюнов Н.Н. Паничкин А.В. Галеев А.П. | Патентообладатели: | Московский институт стали и сплавов |
Реферат | ![](Images/empty.gif) |
Применение: относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения надежности и качества полупроводниковых приборов и интегральных схем. Сущность: способ включает облучение испытуемых приборов пучком импульсного лазерного излучения, измерение электрических параметров испытуемых приборов, сравнение измеренных параметров с эталонными.
|