|
В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.
Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается).
Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"
Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.
Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".
Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru
| МПК » G » G01 » G01R » G01R031/00 |
|
|
Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды 1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H 01H 71/04,H 01H 73/12, H 02B 11/10,H 02H 3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H 01L 21/66; испытание линий передачи энергии H 04B 3/46)
|
Всего позиций: 37 [1-37]
| Код и наименование раздела справочника МПК |
Патенты |
| G01R031/02 .испытание электрической аппаратуры, линий и элементов на короткое замыкание, обрыв, утечку или неправильное соединение | [140] | | G01R031/04 ..соединений, например штепсельных соединений, неразъемных соединений | [4] | | G01R031/06 ..электрических обмоток, например на полярность (измерение числа витков, коэффициента трансформации или коэффициента связи в обмотках 29/20) | [33] | | G01R031/11 ..с помощью метода отраженных импульсов | [18] | | G01R031/14 ..схемы для этих целей | [18] | | G01R031/18 ..с поочередной подачей однотипных изделий на испытание, например шаговые испытания в массовом производстве | [1] | | G01R031/24 .испытание разрядных приборов (в процессе их производства H 01J 9/42)[2] | [8] | | G01R031/25 ..испытание вакуумных приборов [2] | [5] | | G01R031/26 .испытание отдельных полупроводниковых приборов (измерение содержания примесей G 01N)[2] | [122] | | G01R031/265 ..бесконтактные испытания [6] | [3] | | G01R031/27 ..приборов без их удаления из схемы, частью которой они являются, например компенсация влияния окружающих элементов [6] | [3] | | G01R031/28 .испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала (испытание на короткое замыкание, обрыв, утечку или неправильное соединение 31/02; контрольные вычислительные устройства G 06F 11/00; контроль правильности работы запоминающих устройств или испытание запоминающих устройств в режиме ожидания или в автономном режиме работы G 11C 29/00) | [87] | | G01R031/30 ..граничные испытания, например путем изменения напряжения питания (граничные испытания вычислительных машин G 06)[2] | [4] | | G01R031/302 ..бесконтактные испытания (бесконтактные зонды 1/07)[5] | [1] | | G01R031/303 ...интегральных схем (31/305-31/315 имеют преимущество)[6] | [2] | | G01R031/305 ...с использованием электронных пучков [5] | [1] | | G01R031/312 ...емкостными методами [5] | [1] | | G01R031/315 ...индуктивными методами [5] | [1] | | G01R031/317 ..испытание цифровых схем [6] | [4] |
Всего позиций: 37 [1-37]
|
Поиск патентов