|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СТЕНД ДЛЯ ПРОВЕДЕНИЯ ИЗМЕРЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ РЕФЛЕКТОРА |  |
Номер публикации патента: 2276793 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R029/10 | | Аналоги изобретения: | AT 400650 В, 09.09.1994. SU 932427, 30.05.1982. FR 2623288, 19.05.1989. US 4800387 A, 24.01.1989. EP 0340012, 02.11.1989. |
| Имя заявителя: | Открытое акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" им. С.П. Королева" (RU) | | Изобретатели: | Банин Виктор Никитович (RU)
Гореликов Владимир Иванович (RU)
Ракитин Александр Михайлович (RU)
Семенов Алексей Викторович (RU) | | Патентообладатели: | Открытое акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" им. С.П. Королева" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к технике антенных измерений, преимущественно для спутниковых антенн. Техническим результатом является повышение точности измерений параметров рефлектора. Сущность изобретения состоит в том, что безэховая камера, включающую рефлектор, приемную технологическую антенну и систему передающих рупорных облучателей, снабжена системой натяжных и регулировочных тросов, выполненных из упругого радиопрозрачного материала.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента