|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ОСТАТОЧНОГО ЗАРЯЖЕНИЯ ПЛОСКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ |  |
Номер публикации патента: 2231804 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R029/12 | | Аналоги изобретения: | SU 1769157, 15.10.1992. SU 1688199, 30.10.1991. SU 1471152, 07.04.1989. US 3638110 А, 25.01.1972. US 3878459 A, 05.05.1972. EP 0251500 A, 07.01.1988. |
| Имя заявителя: | Воронежский государственный университет (RU) | | Изобретатели: | Алейников Н.М. (RU)
Алейников А.Н. (RU) | | Патентообладатели: | Воронежский государственный университет (RU) |
Реферат | |
Способ измерения поверхностной плотности реального (полного) заряда и его среднего положения, а также поверхностных плотностей эффективных зарядов плоских диэлектрических материалов, основанный на индуцировании тока в цепи измерительного вибрационного конденсатора, между обкладками которого находится исследуемый диэлектрик.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента