|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛА НА ПОВЕРХНОСТИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ОБРАЗЦОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2118830 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01R029/12 | | Аналоги изобретения: | Исследования по геомагнетизму, аэрономии и физике Солнца. - М.: Наука, 1989, вып.86, с, 45-63. |
| Имя заявителя: | Институт солнечно-земной физики СО РАН | | Изобретатели: | Кошилев Н.А.
Демьянович Л.Б.
Лебедев Н.В.
Симонов В.Г.
Шишко А.А. | | Патентообладатели: | Институт солнечно-земной физики СО РАН |
Реферат | |
Способ относится к физике, в частости к методам измерения электрического потенциала на поверхности диэлектрических образцов, и включает получение вблизи поверхности образца низкоэнергичных электронов, ускорение полученных электронов в электростатическом поле образца и измерение энергии ускоренных электронов, при этом для определения распределения электрического потенциала на исследуемой части образца строят изображение образца в лучах ускоренных в электростатическом поле образца электронов и измеряют энергию этих электронов в каждой точке изображения. Способ осуществляется с помощью устройства, состоящего из источника низкоэнергичных вблизи поверхности электронов, анализатора энергии этих электронов после ускорения в электростатическом поле образца, на входе которого размещено устройство переноса изображения, а регистратор частиц выполнен из элементов, образующих двумерную поверхность. Технический результат заключается в измерении величины потенциала на поверхности образца одновременно в нескольких точках. 2 с.п. ф-лы, 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента