|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ПАНОРАМНОГО ИЗМЕРЕНИЯ МОДУЛЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ СВЧ ДВУХПОЛЮСНИКА |  |
Номер публикации патента: 2253874 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R027/06 | | Аналоги изобретения: | Техника средств связи. РИТ, 1980, вып.4, с.34-40. RU 2022284 С1, 30.10.1994. SU 1626194 A1, 07.02.1991. SU 1298690 A1, 23.03.1987. GB 2209841 A, 24.05.1989. US 4839578 А, 13.06.1989. |
| Имя заявителя: | ФГУП Курский завод "Маяк" (RU) | | Изобретатели: | Чупров И.И. (RU)
Лобынцев С.В. (RU) | | Патентообладатели: | ФГУП Курский завод "Маяк" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при создании панорамных измерителей параметров СВЧ устройств. Технический результат изобретения - повышение точности измерения. Способ измерения модуля коэффициента отражения (МКО) СВЧ двухполюсника, обеспечивающий получение информации об измеряемом параметре в соответствии с выражением заключающемся в двух калибровочных измерениях МКО: - холостого хода с коэффициентов отражения Г1; - короткозамыкателя с коэффициент
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента