|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОВЕРХНОСТНОГО ТОКОПРОВОДЯЩЕГО СЛОЯ ИЗДЕЛИЯ |  |
Номер публикации патента: 2167392 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B007/06 G01R027/16 | | Аналоги изобретения: | SU 1783287 A1, 23.12.1992. ПАВЛОВ Л.П. Методы измерения параметров полупроводниковых материалов. - М.: Высшая школа, 1987, с. 10 - 32. DE 3416659 A1, 07.11.1985. RU 2010224 C1, 30.03.1994. Чистяков А.В., Бутенко В.И., Гоголев А.Я. Оптимизация эксплуатационно-технологических процессов в машиностроении. - Новочеркасск, 1997, с. 22 - 24. WO 94/11745, 26.05.1994. US 4564810, 14.01.1986. US 5136252, 04.08.1992. US 5691648, 25.11.1997. US 5495178, 27.02.1996. |
| Имя заявителя: | Таганрогский государственный радиотехнический университет | | Изобретатели: | Бутенко В.И.
Пушкарный А.В. | | Патентообладатели: | Таганрогский государственный радиотехнический университет |
Реферат | |
Изобретение относится к машиностроению, преимущественно к созданию приборов и устройств для измерения и контроля качества поверхностного слоя изделий после механообработки. Устройство для измерения толщины поверхностного токопроводящего слоя изделия состоит из корпуса 1, изготовленного из диэлектрического материала, в котором установлены два токопроводящих электрода 2 и два измерительных электрода 3, крышки 4 из диэлектрического материала, прикрепленной к корпусу винтами 5, клемм 6, пружин возвра
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента