На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ЛИСТОВОГО ДИЭЛЕКТРИКА |  |
Номер публикации патента: 2062476 |  |
Редакция МПК: | 6 | Основные коды МПК: | G01R027/04 G01R027/26 | Аналоги изобретения: | Авторское свидетельство СССР N 1161899, кл. G 01 R 27/26, опубл. 1985. |
Имя заявителя: | Всесоюзный научно-исследовательский институт экспериментальной физики | Изобретатели: | Астайкин А.И. Помазков А.П. | Патентообладатели: | Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики |
Реферат |  |
Использование: в области исследования материалов радиотехническими методами и может быть использовано при исследовании плоских и неплоских листовых диэлектриков /ЛД/. Сущность: способ измерения ДП(ε)ЛД заключается в возбуждении в ЛД /3/, размещенном на металлической подложке /4/ с гладкой поверхностью, параллельной поверхностям ЛД /3/, поверхностной электрической волны /ПВЕ/ любого типа с помощью генератора СВЧ /1/, промодулированного импульсной последовательностью генератора видеоимпульсов /2/, и возбудителя ПВЕ /5/, подключенного к выходу генератора СВЧ /1/ и размещенного в ЛД /3/, регистрации кривой распределения v(h) напряженности поля ПВЕ в свободном пространстве над поверхностью ЛД /3/ по направлению нормали к его поверхности высотой h≥λоп, где λоп - длина возбужденной ПЭВ, с помощью последовательно соединенных высокоомного зонда /6/ и детектора /8/, размещенных на устройстве перемещения /7/, и индикатора-регистратора /9/, синхронизируемого синхроимпульсами генератора видеоимпульсов /2/, измерении на кривой распределения v(h) в точках h1, h2,...hN от основания нормали величины напряженностей поля U1, U2...UN, вычислении поперечного волнового числа pi ПВЕ в свободном пространстве на отрезках нормали &Dgr;hi = hi+1 - hi и определении ДП по каждому из отрезков &Dgr;hi и усредненного значения ЛД из соотношений. Способ позволяет повысить точность и расширить класс исследуемых диэлектриков за счет использования ПВЕ высших типов и измерения ДП неплоского ЛД. 3 ил., 2 табл.
|