|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ |  |
Номер публикации патента: 2257591 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R023/04 | | Аналоги изобретения: | RU 2046365 С1, 20.10.95. Кураченко С.С., Прохоренко В.А., Воинов В.В. Новый метод диагностирования ИС. Электронная промышленность. 1990. №6, с.71-72. RU 2178893 C1, 27.01.2002. Siemens "Силовые IGBT модули". Материалы по применению. - М.: ДОДЭКА, 1997, с.101-107. DE 1231815 А, 01.05.1967. |
| Имя заявителя: | Федеральное государственное унитарное предприятие "Воронежский научно-исследовательский институт связи" (RU) | | Изобретатели: | Горлов М.И. (RU)
Шишкин И.А. (RU) | | Патентообладатели: | Федеральное государственное унитарное предприятие "Воронежский научно-исследовательский институт связи" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к автоматическому контролю цифровых интегральных схем. Технический результат - повышение достоверности процесса диагностики цифровых интегральных схем. Для достижения данного результата измеряют основные динамические характеристики и параметры цифровых интегральных схем при пониженном и номинальном напряжении питания.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента