|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ЧАСТОТНО - НЕЗАВИСИМЫЙ МНОГОПЛЕЧИЙ ТРАНСФОРМАТОРНЫЙ МОСТ ПЕРЕМЕННОГО ТОКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТРЕХЭЛЕМЕНТНЫХ ДВУХПОЛЮСНИКОВ ПО ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОЙ RLC - СХЕМЕ И СПОСОБ ЕГО УРАВНОВЕШИВАНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2150709 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R017/10 G01R017/02 G01R027/04 | | Аналоги изобретения: | SU 413439 A1, 30.01.1997. SU 849100 A1, 23.07.1981. КНЕЛЛЕР В.Ю. Определение параметров многоэлементных двухполюсников. - М.: Энергоатомиздат, 1986, с.104, рис.2.54. GB 1179337 A, 28.01.1970. |
| Имя заявителя: | Ульяновский государственный технический университет | | Изобретатели: | Тюкавин А.А.
Дугушкин С.Н.
Тюкавин П.А.
Хазиев Т.А. | | Патентообладатели: | Ульяновский государственный технический университет |
Реферат | |
Изобретение относится к электроизмерительной технике, а конкретно к мостовым методам измерения на переменном токе параметров трехэлементных двухполюсников. Единая сущность заявленной группы изобретений заключается в обеспечении высокой точности и малой продолжительности измерения параметров трехэлементных двухполюсников по последовательной RLC-схеме. Этот единый технический результат достигается посредством раздельного отсчета измеряемых параметров по числам коммутируемых витков заземленных обмоток трансформаторов напряжения с тесной индуктивной связью при применении постоянной меры сопротивления в плече сравнения и амплитудного нуль-индикатора в измерительной диагонали многоплечего трансформаторного моста переменного тока, а также достигается в способе уравновешивания этого моста, по которому сначала на частоте, большей заданной частоты отсчета измеряемых параметров, проводят операцию уравновешивания по двум разнородным параметрам, а затем на частотах, меньших и больших заданной частоты, поочередно проводят операции уравновешивания по параметру для отсчета измеряемой емкости и по параметру для отсчета измеряемой индуктивности. 2 c.п. ф-лы, 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента