RU 70373 U1, 20.01.2008. RU 2145055 C1, 27.01.2000. RU 2334214 C2, 20.09.2008. JP 2010044063 A, 25.02.2010. US 6810354 B1, 26.10.2004.
Имя заявителя:
Государственное научное учреждение "Институт тепло- и массообмена имени А.В. Лыкова Национальной академии наук Беларуси" (BY)
Изобретатели:
Чижик Сергей Антонович (BY) Худолей Андрей Леонидович (BY)
Патентообладатели:
Государственное научное учреждение "Институт тепло- и массообмена имени А.В. Лыкова Национальной академии наук Беларуси" (BY)
Реферат
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля и изучения свойств наклонных участков структурных элементов, находящихся на подложке. Сканирование поверхности образца выполняют раздельно для двух участков - поверхности подложки и поверхности структурного элемента, находящегося на подложке, без переустановки образца. Формирование изображения поверхности структурного элемента осуществляют путем вычитания постоянного наклона, определенного по результатам сканирования поверхности подложки. Способ позволяет установить величину наклона поверхности структурного элемента относительно поверхности подложки, что повышает точность проводимых измерений. 4 ил.