Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


УСТРОЙСТВО АТОМНО - СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ С ДИНАМИЧЕСКИМ РЕЖИМОМ

Номер публикации патента: 2456622

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 2010150759/28 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: G01Q060/24    
Аналоги изобретения: WO 2008029562 A1, 13.03.2008. EP 1360538 B1, 10.11.2004. EP 839312 B1, 13.08.2003. EP 1519388 B1, 16.08.2006. 

Имя заявителя: ДЖАПАН САЙЕНС ЭНД ТЕКНОЛОДЖИ ЭЙДЖЕНСИ (JP) 
Изобретатели: КАВАКАЦУ Хидеки (JP)
КОБАЯСИ Даи (JP) 
Патентообладатели: ДЖАПАН САЙЕНС ЭНД ТЕКНОЛОДЖИ ЭЙДЖЕНСИ (JP) 
Приоритетные данные: 12.05.2008 JP 2008-124891 

Реферат


Устройство АСМ с динамическим режимом содержит сканнер 3 для выполнения трехмерного относительного сканирования консоли 2 и образца 1; средство 8 для генерации сигнала переменного тока резонансной частоты в моде с колебаниями изгиба консоли 2; средство 9 для возбуждения колебаний изгиба консоли 2 с резонансной частотой; средство 10 для генерации сигнала переменного тока второй частоты, которая ниже упомянутой частоты колебаний изгиба; средство 11 для модуляции расстояния зонд 2А - образец 1 консоли 2 посредством второй частоты; средство 5 для детектирования флуктуации резонансной частоты; средство 4 для детектирования вибрации консоли; средство 6 для детектирования компонента флуктуации, который содержится в детектированном сигнале, с помощью средства 5 для детектирования флуктуации резонансной частоты, и который синхронизирован с сигналом модуляции расстояния зонд 2А - образец 1. Наклон резонансной частоты относительно расстояния зонд 2А - образец 1 получается из мощности и полярности упомянутого компонента флуктуации. Технический результат - повышение скорости идентификации атомов поверхности. 5 з.п. ф-лы, 15 ил.

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"