Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.

Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается). Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"

Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.

Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".




Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru


 МПК » G » G01 » G01Q
Поиск в МПК:   
Техника сканирующего зонда или устройства; различные применения техники сканирующего зонда, например микроскопия сканирующего зонда (SPM) [2010.01]
Всего позиций: 31        [1-31] 
Публикация Название
2428700БЛОК УПРАВЛЕНИЯ ДЛЯ СКАНИРУЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПОВ
2442993ЗОНД ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ЛОКАЛЬНО УСИЛЕННЫХ СПЕКТРОВ ГИГАНТСКОГО КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ
2423713КАНТИЛЕВЕР ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА
2459214КОМПЛЕКТ ЗОНДОВ ДЛЯ МИКРОСКОПА СО СКАНИРУЮЩИМ ЗОНДОМ
2420747МИНИАТЮРИЗОВАННЫЙ ПРУЖИННЫЙ ЭЛЕМЕНТ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ
2461839СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП
2472165СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ БИОЛОГИЧЕСКИХ ПРИМЕНЕНИЙ
2427846СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С НАНОТОМОМ
2407021СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, СОВМЕЩЕННЫЙ С УСТРОЙСТВОМ ИЗМЕРЕНИЯ МАССЫ И ДИССИПАТИВНЫХ СВОЙСТВ
2389032СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, СОВМЕЩЕННЫЙ С УСТРОЙСТВОМ МОДИФИКАЦИИ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА
2475761СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЗОНДА ДЛЯ БЛИЖНЕПОЛЕВОЙ СВЕРХВЫСОКОЧАСТОТНОЙ МИКРОСКОПИИ
2402782СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЗОНДОВ НА ОСНОВЕ КВАРЦЕВЫХ РЕЗОНАТОРОВ
2402022СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ СЗМ - НАНОСЕНСОРОВ МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ СТИМУЛЯЦИИ
2425387СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТРУБЧАТОЙ МИКРО - , НАНОИГЛЫ В ИНТЕГРАЛЬНОМ ИСПОЛНЕНИИ
2426135СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РЕЛЬЕФА НАНОРАЗМЕРНОЙ ПРОВОДЯЩЕЙ ПОВЕРХНОСТИ С ФОТОННЫМ ЭЛЕМЕНТНЫМ АНАЛИЗОМ МАТЕРИАЛА
2431151СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ НАНОЧАСТИЦЫ
2381512СПОСОБ МОДИФИКАЦИИ ЗОНДОВ ДЛЯ ХИМИЧЕСКОЙ СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ
2449294СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФОРМЫ И РАЗМЕРОВ ОСТРИЯ ИГЛЫ ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА
2415444СПОСОБ ПОВЫШЕНИЯ ДОСТОВЕРНОСТИ РЕЗУЛЬТАТОВ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДОГО ТЕЛА МЕТОДОМ АТОМНО - СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ
2437104СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИГЛЫ ИЗ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО ВОЛЬФРАМА ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ
2425386СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ В ЛЮМИНЕСЦЕНТНОМ МИКРОСКОПЕ БЛИЖНЕГО ПОЛЯ
2452934СПОСОБ ПРЕПАРИРОВАНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК ВИСМУТА НА СЛЮДЕ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ ГРАНИЦ БЛОКОВ МЕТОДОМ АТОМНО - СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ
2462726СПОСОБ СКАНИРОВАНИЯ НА СКАНИРУЮЩЕМ ЗОНДОВОМ МИКРОСКОПЕ И ФОРМИРОВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ
2397138СПОСОБ УПРАВЛЯЕМОГО СИНТЕЗА, МОДИФИКАЦИИ И РАЗРУШЕНИЯ ЕДИНИЧНЫХ МЕТАЛЛООКСИДНЫХ НАНОСТРУКТУР В СОЧЕТАНИИ С КОНТРОЛЕМ ИХ СТРОЕНИЯ И СВОЙСТВ (ВАРИАНТЫ)
2428655СПОСОБ УСКОРЕНИЯ ИЗМЕРЕНИЯ РЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА
Всего позиций: 31        [1-31] 
Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"