|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ПОВРЕЖДЕНИЯ СИСТЕМЫ ГЕМОСТАЗА У БОЛЬНЫХ С ЦИРКУЛЯТОРНЫМ ШОКОМ |  |
Номер публикации патента: 2151401 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N033/86 G01N033/49 | | Аналоги изобретения: | 1. Баркаган З.С. Геморрагические заболевания и синдромы. - М.: Медицина, 1988, 528 с. 2. SU 431449 A, 05.06.74. 3. SU 590665 A, 30.01.78. 4. SU 826248 A, 30.04.81. |
| Имя заявителя: | Шипаков Виталий Евгеньевич | | Изобретатели: | Шипаков В.Е.
Тютрин И.И.
Шписман М.Н.
Кныш А.С. | | Патентообладатели: | Сибирский государственный медицинский университет
Шипаков Виталий Евгеньевич
Тютрин Иван Илларионович
Шписман Михаил Натанович
Кныш Антон Сергеевич |
Реферат | |
Изобретение относится к медицине, конкретно к способам диагностики повреждения системы гемостаза у больных с циркуляторным шоком. Способ обеспечивает повышение точности и сокращение времени исследования. Определяют период реакции r, интенсивность спонтанной агрегации тромбоцитов Аr, константу тромбина к, максимальную амплитуду МА, время формирования фибрин-тромбоцитарной структуры сгустка Т, суммарный показатель ретракции и спонтанного лизиса сгустка ФА, причем при показателях r в пределах 5-7 мин, Аr от -2 до -6 осн. ед., к в пределах 4-6 мин, МА в пределах 500-700 отн. ед. , Т в пределах 40-60 мин, ФА, равном 10-20%, определяют отсутствие шока, при Аr от -8 до -14 отн. ед. и отсутствии изменений других показателей определяют компенсированную стадию шока, при r менее 4 мин, Аr, равном от -8 до -14 отн. ед., к менее 3 мин, МА более 750 отн. ед., Т менее 40 мин, ФА, равном 10-20%, определяют декомпенсированную обратимую стадию шока, при r более 10 мин, Аr, равном -4 отн. ед. и выше, к более 9 мин, МА менее 400 отн. ед., Т более 70 мин, ФА более 20% или менее 5% определяют декомпенсированную необратимую стадию шока. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента