|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| Способ аналитического контроля ионов металлов |  |
Номер публикации патента: 2001398 |  |
| Имя заявителя: | Московский химико-технологический институт им.Д.И.Менделеева | | Изобретатели: | Черкасова Татьяна Александровна
Вонский Владимир Евгеньевич
Лейкин Юрий Алексеевич | | Патентообладатели: | Московский химико-технологический институт им.Д.И.Менделеева |
Реферат | |
ФАКСИМИЛЬНОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕБиблиография:Страница 1Реферат:Страница 1Формула:Страница 2 Страница 3 Страница 4 Страница 5 Страница 6Описание:Страница 6MM4A - Досрочное прекращение действия патента Российской Федерации на изобретение из-за неуплаты в установленный срок пошлины за поддержание патента в силеБИ: 02/2002Извещение опубликовано: 20.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента