US 5457997 A, 17.10.1995. JP 2984390 B2, 29.11.1999. JP 2006200970 A, 03.08.2006. SU 1793364 A1, 07.02.1993. SU 853524 A1, 07.08.1981. SU 1783411 A1, 23.12.1992. SU 1516796 A2, 23.10.1989. RU 2231054 C1, 20.06.2004.
Использование: для ультразвуковой дефектоскопии. Сущность: заключается в том, что аппарат ультразвуковой дефектоскопии содержит лазер, испускающий лазерное излучение, и генератор ультразвуковых волн, содержащий первую диафрагму, облучаемую лазером, имеющую заданные частотные характеристики, а также покрытие, по меньшей мере, на той ее части, которую облучают лазерным излучением, и выполненную с возможностью генерировать ультразвуковые колебания; причем аппарат выполняет дефектоскопическое обследование посредством испускания ультразвуковых волн, генерируемых первой диафрагмой ультразвукового генератора, в направлении обследуемого объекта, при этом аппарат ультразвуковой дефектоскопии также содержит приемник ультразвуковой волны, содержащий вторую диафрагму, выполненную с возможностью вибрации под воздействием ультразвуковых колебаний, отраженных от обследуемого объекта; лазерный орган, выполненный с возможностью испускать лазерное излучение на вторую диафрагму и принимать лазерное излучение, отраженное от нее, и устройство обработки и отображения данных. Технический результат: обеспечение возможности дефектоскопического обследования объектов, не вызывая их порчи и деформации, а также повышение точности и производительности ультразвуковой дефектоскопии. 4 з.п. ф-лы, 6 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента