WO 2004077044 A1, 10.09.2004. US 2003027197 A1, 06.02.2003. US 20060194327 A1, 31.08.2006. RU 2192018 C2, 27.10.2002.
Имя заявителя:
МЕГНАЙСЕНС ТЕКНОЛОДЖИ ЛИМИТЕД (CY)
Изобретатели:
ЛЕНГЛЕ Люк (FR)
Патентообладатели:
МЕГНАЙСЕНС ТЕКНОЛОДЖИ ЛИМИТЕД (CY)
Приоритетные данные:
07.09.2007 US 60/970,678 07.09.2007 FR 0757437
Реферат
Предложены способ анализа, устройство и анализатор магнитного материала. В способе намагничивают материал низкочастотным (НL) и высокочастотным (НH) магнитными полями. Поле НH характеризуется частотой fH . Затем создают сигнатуры магнитного материала, сформированные по меньшей мере из двух точек. Создание содержит получение значения каждой точки S(H)P посредством измерения за каждый промежуток периода, амплитуды и фазы гармоники магнитного поля, индуцированного в магнитном материале. Амплитуду и фазу получают только в ответ на намагничивание в течение промежутка периода магнитного поля, причём гармоника имеет частоту nfH , где n является ненулевым положительным целым числом. Затем идентифицируют и/или определяют массу магнитного материала по нескольким точкам созданной сигнатуры. Техническим результатом является повышение чувствительности измерения магнитного материала. 3 н. и 21 з.п. ф-лы, 8 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента