RU 2020464 С1, 30.09.1994. RU 94041699 A1, 10.08.1996. US 2004171926 A1, 02.09.2004. JP 2008139115 A, 19.06.2008.
Имя заявителя:
Российская Федерация, от имени которой выступает Государственный заказчик - Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (RU), Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ") (RU)
Изобретатели:
Сушко Андрей Алексеевич (RU) Байрак Виктор Владимирович (RU) Верещага Александр Николаевич (RU)
Патентообладатели:
Российская Федерация, от имени которой выступает Государственный заказчик - Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (RU) Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ") (RU)
Реферат
Изобретение относится к области исследования материалов без нарушения их структуры и свойств с помощью электромагнитных средств, например, путем измерения магнитной восприимчивости, и может использоваться при разработке способов обнаружения нарушения целостности, в частности, контейнеров с содержимым, без их вскрытия. Способ контроля целостности изделия заключается в следующем: на контролируемое изделие, которое включено в систему изделие - двухконтурный преобразователь электромагнитных полей, воздействуют магнитным полем, создаваемым первичным контуром преобразователя при пропускании по нему тока с той же частотой, при которой были получены паспортные данные, при этом нижний торец первичного контура размещают заподлицо или выше по отношению к нижней поверхности контролируемого изделия. В соответствии с месторасположением первичного контура при получении паспортных данных измеряют амплитуду электродвижущей силы индукции на выходе преобразователя, и по ее величине судят о целостности контролируемого изделия путем сравнения с паспортной. Технический результат: повышение быстродействия и надежности способа. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента