Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


СПОСОБ КОНТРОЛЯ МАТЕРИАЛОВ НА СОДЕРЖАНИЕ f - ЭЛЕМЕНТОВ БЕЗ НАРУШЕНИЯ ИХ СТРУКТУРЫ И СОСТАВА

Номер публикации патента: 2383886

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 2008144356/28 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: G01N027/76    
Аналоги изобретения: RU 2200352 C2, 10.03.2003. RU 2082156 С1, 20.06.1997. RU 2106702 C1, 10.03.1996. RU 2028610 С1, 09.02.1995. 

Имя заявителя: Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (RU),
Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" - ФГУП "РФЯЦ - ВНИИЭФ" (RU) 
Изобретатели: Сушко Андрей Алексеевич (RU)
Байрак Виктор Владимирович (RU) 
Патентообладатели: Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (RU)
Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" - ФГУП "РФЯЦ - ВНИИЭФ" (RU) 

Реферат


Способ контроля материалов на содержание f-элементов без нарушения их структуры и состава относится к исследованию свойств веществ и может быть использован, например, на предприятиях атомной промышленности и связанных с ними сферами деятельности, когда есть необходимость в определении наличия материалов, например, делящихся, бесконтактным методом, не вскрывая упаковки или контейнера, в котором они находятся. Для повышения оперативности контроля без непосредственного контакта с исследуемым материалом, определяют эталонные и текущие параметры и по результатам сравнения определяют наличие f-элемента в объекте исследования, при этом в качестве эталонных и текущих параметров используют частоты колебаний отклика объекта исследования на приложенные механические (вибрационные или импульсные) воздействия, причем при определении эталонных параметров значения снимают с объекта исследования непосредственно перед воздействием на него магнитным полем, а при определении текущих параметров значения снимают в процессе воздействия на объект исследования магнитным полем. 2 ил.
Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"