

	Главная Патентный отдел Технологии Справочник ГРНТИ Прием Наши координаты Обратная связь

Поиск патентов

Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

Патентный отдел

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

ДВУХПАРАМЕТРОВЫЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ

Номер публикации патента: 2305280

Вид документа:	C1
Страна публикации:	RU
Рег. номер заявки:	2006112712/28

Получить полное описание патента

Редакция МПК:	7
Основные коды МПК:	G01N027/90 G01B007/06
Аналоги изобретения:	RU 2184930 С2, 10.07.2002. RU 2184931 C2, 10.07.2002. SU 1670371 A1, 15.08.1991. SU 1052988 A, 07.11.1983. US 5541510 A, 30.07.1996. BG 50465 A, 14.08.1992.

Имя заявителя:	Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Академия Федеральной службы охраны Российской Федерации (Академия ФСО России) (RU)
Изобретатели:	Богданов Николай Григорьевич (RU) Иванов Борис Рудольфович (RU) Щекотихин Сергей Николаевич (RU)
Патентообладатели:	Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Академия Федеральной службы охраны Российской Федерации (Академия ФСО России) (RU)

Реферат

Изобретение относится к неразрушающему контролю качества материалов и изделий и может быть использовано для измерения толщины немагнитных покрытий на ферромагнитной основе и контроля толщины диэлектрического покрытия с учетом электромагнитных свойств изделия. Технический результат: расширение диапазона измерения и повышение достоверности и производительности контроля.

Вернуться к списку

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь

Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"