

	Главная Патентный отдел Технологии Справочник ГРНТИ Прием Наши координаты Обратная связь

Поиск патентов

Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

Патентный отдел

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ, В ЧАСТНОСТИ ФЕРРИТОВ

Номер публикации патента: 2255344

Вид документа:	C1
Страна публикации:	RU
Рег. номер заявки:	2004114007/28

Получить полное описание патента

Редакция МПК:	7
Основные коды МПК:	G01R027/26 G01N027/02
Аналоги изобретения:	СУРЖИКОВ А.П. и др. Известия ВУЗов. Физика, №10, 2000, с.49-52. SU 995016 A, 07.02.1983. SU 575557 A, 26.10.1977.

Имя заявителя:	Томский политехнический университет (RU)
Изобретатели:	Суржиков А.П. (RU) Гынгазов С.А. (RU) Малышев А.В. (RU)
Патентообладатели:	Томский политехнический университет (RU)

Реферат

Использование: в контрольно-измерительной технике. Изобретение направлено на повышение точности определения диэлектрических характеристик поликристаллических материалов: величин действительной ’ и мнимой и ’’ частей диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь tg материала образца.

Вернуться к списку

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь

Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"