|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| КОНТРОЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ |  |
Номер публикации патента: 2245541 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N027/82 | | Аналоги изобретения: | DD 258077 A1, 06.07.1988. SU 1810805 A1, 23.04.1993. SU 1467488 A1, 23.03.1989. SU 1698732 A1,15.12.1991. |
| Имя заявителя: | Государственное научное учреждение "Научно-исследовательский институт интроскопии при Томском политехническом университете Министерства образования Российской Федерации" (ГНУ "НИИ ИН при ТПУ") (RU) | | Изобретатели: | Толмачев И.И. (RU)
Прошутина Р.В. (RU) | | Патентообладатели: | Государственное научное учреждение "Научно-исследовательский институт интроскопии при Томском политехническом университете Министерства образования Российской Федерации" (ГНУ "НИИ ИН при ТПУ") (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области неразрушающего контроля. Технический результат: расширение возможностей использования образца за счет одновременного определения чувствительности магнитных дефектоскопов к поверхностным и подповерхностным дефектам. Сущность: Образец содержит пластину с отверстием и установленной в нем втулкой из того же материала.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента