|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО КОТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ С ПОВЕРХНОСТЬЮ МАЛОЙ КРИВИЗНЫ ИЗ МАГНИТОМЯГКИХ СТАЛЕЙ |  |
Номер публикации патента: 2097758 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N027/85 | | Аналоги изобретения: | 1. Фалькевич А.С., Хусанов М.Х. Магнитографический контроль сварных соединений. - М.: Машиностроение, 1966, с.232. 2. ГОСТ 25225-82. Контроль неразрушающий. Швы сварных соединений трубопроводов. Магнитографический метод. 3. Козлов В.С. Техника магнитографической дефектоскопии. - Минск: В школе, 1976, с.256. 4. SU, авторское свидетельство, 1599754, кл.G 01N 27/85, 1990. 5. Михайлов С.П., Щербин В.Е. Физические основы магнитографической дефектоскопии. - М.: Наука, 1992, с.240. |
| Имя заявителя: | Горно-Алтайский государственный университет | | Изобретатели: | Михайлов С.П. | | Патентообладатели: | Горно-Алтайский государственный университет |
Реферат | |
Использование: изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля изделий с поверхностью малой кривизны и сварных швов со снятым усилением из магнитомягких сталей. Сущность изобретения: при намагничивании контролируемого изделия совместно с магнитной лентой, уложенной на его поверхность, постоянным магнитным полем Ho используют ленты со стартовым полем Hb не ниже 250-300 А/см, их всех подходящих лент выбирают ленту с наибольшим значением насыщающего поля Hs, величину Ho выбирают равной величине Hb, а качество изделия определяют по результатам считывания магнитограммы. 3 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента