|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ВИХРЕТОКОВЫЙ ДЕФЕКТОСКОП И СПОСОБ ЕГО НАСТРОЙКИ |  |
Номер публикации патента: 2073232 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N027/80 | | Аналоги изобретения: | 1. Дорофеев А.Л., Казаманов Ю.Г.. Электромагнитная дефектоскопия.- М.: Машиностроение., 1980, с.116-120, 130-138. 2. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник, кн.2. Под ред. Клюева В.В.- М.: Машиностроение, 1986 г., с.133-134 - ближайший аналог. 3. Арш Э.И. Автогенераторные методы и средства измерений.- М.: Машиностроение, 1979 г., с.18-21. 4. Дякин В.В., Сандовский В.А.. Теория и расчет накладных вихретоковых преобразователей.- М.: Наука, 1981, с.19-20. |
| Имя заявителя: | Митюрин Владимир Сергеевич | | Изобретатели: | Митюрин Владимир Сергеевич | | Патентообладатели: | Митюрин Владимир Сергеевич |
Реферат | |
Использование: изобретение относится к неразрушающему контролю и выявлению дефектов в электропроводящих немагнитных изделиях. Сущность изобретения: при уменьшении значения сопротивления переменного резистора 3 точка пересечения годографа селективного подавления с осью реактивных сопротивлений на комплексной плоскости сопротивлений вихретокового преобразования, расположенного над проводящим немагнитным полупространством, смещается вниз, а при увеличении - вверх. Совмещение годографа селективного подавления с годографом зазора соответствует отстройке от зазора. Отстройка от влияния зазора такого дефектоскопа осуществляется регулированием значения индуктивности катушки 5 индуктивности. Изменение резонансной частоты колебательного контура дефектоскопа при влиянии зазора улучшает диапазон и качество отстройки от зазора. 1 з.п. ф-лы, 3 ил., 2 табл.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента