«Thermographic imaging of cracks in thin metal sheets», Proceedings of SPIE, 1992, Cramer K.E., Volume 1682, pp.162-170. EP 333100 A2, 20.09.1989. JP 2001050921 A, 23.02.2001. SU 1746391 A1, 07.07.1992.
Группа изобретений относится к области измерительной техники, в частности к тепловому неразрушающему контролю объектов, и может быть использована для технической диагностики дефектов листовых материалов. Дефект на поверхности или в поверхностном слое перемещающегося материала может быть обнаружен с использованием способа, содержащего стадии: нагревание поверхности материала, получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала нагревают на стадии нагревания или охлаждают после нагревания, и обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения. Когда данные теплового изображения получают в то время, как материал нагревают, нагревательное устройство и инфракрасную термографическую камеру размещают так, что тепловая энергия, излучаемая из нагревательного устройства, отражается материалом, поступая в камеру. Система содержит устройство для изменения температуры поверхности материала, инфракрасную термографическую камеру для получения данных теплового изображения поверхности материала, устройство обнаружения для обнаружения дефекта путем вычисления лапласиана. Технический результат заключается в возможности контроля состояния листов материала и выявления дефектов с высокой точностью без зависимости от подготовки оператора и размеров дефектов, в том числе и под поверхностью материала, даже в случае его перемещения. 6 н. и 5 з.п. ф-лы, 49 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента