RU 2083961 A1, 10.07.1997. SU 146542 A1, 01.01.1962. SU 770333 A1, 20.11.2005. RU 2132548 C1, 27.06.1999. RU 2426106 C1, 10.08.2011. JP 10274629 A, 13.10.1998.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Томский государственный университет (ТГУ) (RU)
Изобретатели:
Архипов Владимир Афанасьевич (RU) Жарова Ирина Константиновна (RU) Гольдин Виктор Данилович (RU) Куриленко Николай Ильич (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Томский государственный университет (ТГУ) (RU)
Реферат
Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано при определении коэффициента излучения поверхности материалов. Согласно заявленному способу в предварительно нагретый цилиндрический образец теплозащитного материала, размещенного в вакуумированной камере, устанавливается термопара с возможностью измерения температуры в процессе остывания образца. При этом интегральный коэффициент излучения определяется из решения обратной задачи теплопроводности. Технический результат: повышение точности измерения интегрального коэффициента излучения поверхности теплозащитных материалов за счет учета неравномерного температурного поля в образце теплозащитного материала. 6 ил., 1 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента