SU 1675908 A1, 07.09.1991. SU 1596290 A1, 30.09.1990. SU 1770870 A1, 23.10.1992. SU 783667 A1, 30.11.1980. JP 2201149 А, 09.08.1990. US 4109508 A, 29.08.1978.
Имя заявителя:
Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" (RU)
Изобретатели:
Салихов Зуфар Гарифуллинович (RU) Будалин Олег Николаевич (RU) Топоров Виктор Иванович (KZ) Газимов Руслан Тахирович (RU) Салихов Марат Зуфарович (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" (RU)
Реферат
Использование: для неразрушающего контроля объектов. Сущность: заключается в том, что для повышения достоверности и информативности результатов неразрушающего контроля осуществляют определение характеристик дефектов путем сравнения экспериментальных значений температурных полей, зарегистрированных в процессе проведения дефектоскопии контролируемого объекта, со значениями координат (характеристик) температурных полей, внесенных экспертами до начала контроля в «базу знаний», соответствующим различным комбинациям характеристик дефектов методом «невязки», при этом до проведения дефектоскопии контролируемого объекта измеряют погрешность контроля на основе измерения характеристик дефектов (1-я операция), полученных различными дефектоскопистами, измеряют статистические характеристики значений погрешности результатов, затем определяют (например, по критерию Фишера) одного из 3-х, 4-х лучших экспертов (дефектоскопистов) для заполнения «базы знаний» путем оценки качества их работы согласно определенным математическому выражению и неравенству. Технический результат: повышение достоверности и информативности результатов контроля дефектов. 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента