На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ТЕПЛОПРОВОДНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ |  |
Номер публикации патента: 2277235 |  |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01N025/20 | Аналоги изобретения: | SU 1784889 A1, 30.12.1992. RU 2018117 C1, 15.08.1994. SU 1330527 A1, 15.08.1987. US 5711604 A, 27.01.1998. |
Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Уфимский государственный авиационный технический университет (RU) | Изобретатели: | Бадамшин Ильдар Хайдарович (RU) | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Уфимский государственный авиационный технический университет (RU) |
Реферат |  |
Использование: изобретение относится к области испытания физических свойств материалов. Сущность изобретения - определение коэффициента теплопроводности предусматривает вычисление коэффициента теплопроводности по формулегде с1 v - теплоемкость одного атома при постоянном объеме; x - расстояние между ближайшими соседними атомами; mA - атомная масса химического элемента; kp - коэффициент ретикулярной плотности элементарной ячейки кристаллической структуры; а0 - период кристаллической решетки; Vзв -
|