|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ДВУХСПЕКТРАЛЬНОЙ ИМПУЛЬСНО - ЧАСТОТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ |  |
Номер публикации патента: 2114421 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N025/72 | | Аналоги изобретения: | Termografia video for impelses. Dance Brian "Mundo electron". - 1987, N 1 79, с. 95-97. RU, патент, 2059230, кл. G 01 N 25/72, 1996. |
| Имя заявителя: | Государственное научно-производственное предприятие "Исток" | | Изобретатели: | Гапонов С.С.
Туринов В.И. | | Патентообладатели: | Государственное научно-производственное предприятие "Исток" |
Реферат | |
Возбуждают в образце широкополосные и узкополосные поверхностные тепловые волны. Излучение тепловых волн принимают ИК фотоприемником типа "сэндвич", чувствительным в двух спектральных диапазонах - 2 - 5 мкм и 8 - 14 мкм. Элементом чувствительным в диапазоне 2 - 5 мкм принимают излучение с низкой частотой и измеряют частоту ωm, при которой фотосигнал максимален при разности фаз 2πm между ним и модулированным излучением источника тепловых волн. Элементом спектрального диапазона 8 - 14 мкм измеряют сигнал I2 и скорость его изменения dI2/dτ от теплового импульса. Тепло-физические параметры и глубины залегания дефектов определяют по ωm и отношению (dI2/dτ)/I2., 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента