RU 2243541 C2, 27.12.2004. RU 2240538 C2, 20.11.2004. SU 1536215 A1, 15.01.1990. SU 1526381 A1, 19.06.1995. JP 62282251 A, 08.12.1987. JP 8203691 A, 09.08.1996. JP 61155843 A, 15.07.1986. US 6157699 A, 05.12.2000.
Имя заявителя:
Открытое акционерное общество "Ижорские заводы" (RU)
Изобретатели:
Зуев Вячеслав Михайлович (RU) Табакман Рудольф Леонидович (RU) Капустин Виктор Иванович (RU) Шипилов Александр Валентинович (RU)
Патентообладатели:
Открытое акционерное общество "Ижорские заводы" (RU)
Реферат
Использование: для определения глубины залегания дефекта. Сущность: устанавливают на контролируемый участок изделия со стороны источника излучения образец-имитатор дефектов, имеющий эталонный дефект, соответствующий по размеру реальному, выявленному на снимке дефекту, глубина залегания которого подлежит определению, затем проводят двойное просвечивание без изменения направления излучения при различных расстояниях от источника излучения до контролируемого изделия, после чего замеряют размеры изображений эталонных и реальных дефектов на обоих снимках и по результатам замеров и известной просвечиваемой толщине изделия определяют расчетным или графическим путем глубину залегания реального дефекта. Технический результат: повышение надежности и точности определения глубины залегания дефекта. 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента